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      분석의뢰 신청 분석료 안내
      • 14

        Custom-fabricated Widefield Nanospectroscopic Imaging Microscopy (맞춤형 넓은시야 나노분광 이미징 현미경)

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        • 활용

          시료의 형광(FL), 발광(PL) 및 라만 스펙트럼 및 분광 이미지 측정

          소재의 광특성 분석 및 실시간 오페란도 소재 분석

        • 대상물질

          나노, 박막, 고분자, 촉매 및 바이오 등 광특성 분석 소재

        • 담당자 연락처

          남상환 042-860-7278 shnam@krict.re.kr

        • 기기실

          W4동 305호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          넓은 시야 분광 이미징 분석 63,000원 / 시료
          맞춤형 분석 지원 협의
      • 13

        Atomic Force Microscope (AFM, 원자힘현미경)

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        • 활용

          시료 표면의 원자·분자 수준 형상, 거칠기(Roughness) 분석

        • 대상물질

          나노소재, 고분자 박막, 생체시료 등 고체 표면

        • 담당자 연락처

          최민석 042-860-7487 mschoi@krict.re.kr

        • 기기실

          W4동 309호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          표면 분석 85,000원 / 시간
      • 12

        HR-XRD (고분해능 X-선 회절분석기)

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        • 활용

          K-alpha-1으로 단색화된 X선을 이용하므로 정밀 분석에 활용

        • 대상물질

          유∙무기물 및 혼합물 물질 확인

        • 담당자 연락처

          임은수 042-860-7715 cordelia@krict.re.kr

        • 기기실

          102호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          High Power XRD 시간수×80,000
      • 11

        Operando-XRD (실시간 충·방전 X-선 회절분석기)

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        • 활용

          충·방전 과정에서 발생하는 결정학적인 변화를 실시간으로 관찰

        • 대상물질

          배터리 셀 분석

        • 담당자 연락처

          임은수 042-860-7715 cordelia@krict.re.kr

        • 기기실

          102호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          Operando XRD 준비중
      • 10

        Small angle X-ray scattering (SAXS) (소각 X-선 산란)

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        • 활용

          X-선을 이용한 화학물질 내 나노구조체의 구조 분석

        • 대상물질

          (Transmission) powder, solution, film, sol-gel (GI-SAXS) 박막

        • 담당자 연락처

          송동섭 042-860-7716 sds0123@krict.re.kr

        • 기기실

          106

        • 분석료

          분석항목 분석료
          SAXS 시료수x100,000
          WAXS 시료수x100,000
          GI-SAXS 시료수x100,000
      • 9

        WD-XRF (파장 분산형 X-선 형광분석기)

        672c2384d17caf8ecb811f6523dc06db_1594019094_3157.jpg 상세보기

        • 활용

          구성 원소의 정성 및 정량 분석

          도금두께 측정

        • 대상물질

          박막, 오일, 유∙무기 및 고분자 화합물

        • 담당자 연락처

          현상화 042-860-7723 hyunsh@krict.re.kr

          임은수 042-860-7715 cordelia@krict.re.kr

        • 기기실

          104호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          WD-XRF(정성분석) 70,000
          정량분석 70,000/100,000
          분석 전처리 30,000
      • 8

        XRD (X-선 회절분석기)

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        • 활용

          다결정 시료의 결정구조 해석 및 혼합물질 확인

          결정화도(Crystallinity), 미소립자(Crystallite) 크기 분석 등

        • 대상물질

          분말 또는 박막/필름 상태의 유∙무기 물질 및 고분자 물질

        • 담당자 연락처

          임은수 042-860-7715 cordelia@krict.re.kr

        • 기기실

          102호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          XRD 시료수×60,000
      • 7

        Open XRD (X-선 회절분석기)

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        • 활용

          다결정 시료의 결정구조 해석 및 혼합물질 확인

          결정화도(Crystallinity), 미소립자(Crystallite) 크기 분석 등

          OPEN 장비로서 입주기업자 대상으로 장비 교육 이수자만 사용 가능

        • 대상물질

          분말 또는 박막/필름 상태의 유∙무기 물질 및 고분자 물질

        • 담당자 연락처

          임은수 042-860-7715 cordelia@krict.re.kr

        • 기기실

          101호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          Open XRD 시간수×24,000
      • 6

        HT-XRD (고온 X-선 회절분석기)

        eb1a93751b8772f2d8b5f3eb13d95c2d_1525749169_9154.jpg 상세보기

        • 활용

          온도 변화에 따른 열분해 반응 연구

          고온에서의 열팽창, 상전이 연구

        • 대상물질

          분말시료

        • 담당자 연락처

          임은수 042-860-7715 cordelia@krict.re.kr

        • 기기실

          102호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          High Temp. XRD 시간수×65,000
          (준비시간 포함)
      • 5

        HP-XRD (고출력 X-선 회절분석기)

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        • 활용

          다결정 및 단결정(Epitaxial film) 시료의 박막구조 해석

          박막의 두께, 결정성 등 분석

        • 대상물질

          박막/필름 시료

        • 담당자 연락처

          임은수 042-860-7715 cordelia@krict.re.kr

        • 기기실

          102호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          High Power XRD 시간수×80,000
      • 4

        FE-SEM (전계 방사형 전자현미경)

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        • 활용

          반도체, 박막재료 등의 고체 표면 형태 관찰

          물체를 구성하는 입자의 형상과 크기 관찰

        • 대상물질

          기초 연구 및 화학 관련 산업 전반의 고체시료

        • 담당자 연락처

          현상화 042-860-7723 hyunsh@krict.re.kr

        • 기기실

          103호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          FE-SEM 시료수×50,000+추가매수×20,000
      • 3

        Cryo-FE-SEM (크라이오 전계 방사형 전자현미경)

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        • 활용

          생체시료 또는 액상시료의 고해상도 구조 분석

          화장품 입자의 크기 및 형태 분석

        • 대상물질

          액상 및 생체 시료

        • 담당자 연락처

          현상화 042-860-7723 hyunsh@krict.re.kr

        • 기기실

          103호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          Cryo-FE-SEM 100,000+시료수×50,000+추가매수×20,000+전처리수×150,000
      • 2

        EDS (에너지 분산형 X-선 분광분석기)

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        • 활용

          구성 원소의 정성 및 정량 분석

          시료 성분 원소의 분포도 분석

        • 대상물질

          금속, 유∙무기 및 고분자 화합물

        • 담당자 연락처

          현상화 042-860-7723 hyunsh@krict.re.kr

        • 기기실

          103호 / 104호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          EDS 시료당×60,000
      • 1

        Suplarmolecular XRC (단결정 X-선 회절분석기)

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        • 활용

          3차원 분자구조 및 결정구조 해석

          키랄화합물의 절대배열 결정

        • 대상물질

          단결정 상태의 단백질, 거대분자, 저분자 화합물

        • 담당자 연락처

          최윤미 042-860-7711 ymchoi@krict.re.kr

        • 기기실

          105호

        • 분석료

          분석항목 분석료
          결정스크리닝 및 데이터측정 시간수x65,000
          구조해석 시료수x400,000
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