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보유장비

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X-ray DiffractometerXRD (X-선 회절분석기)

  • Model Rigaku Ultima IV
  • 담당자 임은수 / 042-860-7715
  • 기기실 102호
  • 시료 정보

    시료 상태 분말 및 필름 시료 등

    시료양 및 크기 분말-약 1g, 박막/필름-지름 25mm 미만

  • 원리 및 특징

    결정 (crystal)물질의 단위가 되는 원자, 분자 이온쌍 등이 3차원적으로 반복 배열된 상태

    브래그법칙 (Bragg’s law)X-선의 간섭상으로부터 결정 내부의 원자배열 상태를 추정하는 기초적인 관계식 nλ = 2dsinθ
    즉, 입사 X-선과 결정내 면간격 사이에 성립하는 관계법칙으로 산란된 X선의 위상이 같을 경우, 보강간섭이 일어나 강한 회절선이 나타남

    결정체에 X-선을 조사하면 결정체 내의 원자에 의하여 산란된 X-선이 서로 간섭하여 특정 방향에 강한 회절 X-선을 발생

    결정을 이루는 원자배열, 원자의 종류 등에 따라 회절패턴이 결정되므로 결정체 고유의 회절패턴을 분석하면 혼합물의 정성분석 가능
    (ICDD에 등록된 물질은 비교적 쉽게 정성분석 할 수 있음)

    회절 X-선의 폭과 세기 등을 이용하여 미소립자(crystallite) 크기, 결정화도(crystallinity) 등 분석 가능

    비파괴 분석법으로 시료 회수 가능

  • 용도 및 활용분야

    혼합물의 결정상 확인 및 동질이상/결정 다형체의 확인

    결정화도(Crystallinity) 분석

    미소결정(Crystallite) 크기 결정

    고상반응의 확인

    리트벨트를 통한 격자상수 측정 등

  • 보유장비 및 주요규격

    Model Rigaku Ultima IV
    Power 40 kV, 40 mA
    X-ray source Cu Kα radiation (λ =1.5418 Å)
    2 theta range 1.5° ~ 160°
    Monochromator Dual position Graphite diffracted beam
    Detector Scintillation counter
    ICDD (Inorganic Crystal Diffraction Database) 매년 업데이트함

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