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보유장비

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Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence SpectrometerWD-XRF (파장 분산형 X-선 분광분석기)

  • Model Supermini 200/Rigaku
  • 담당자 현상화 / 042-860-7723, 임은수 / 042-860-7715
  • 기기실 104호
  • 시료 정보

    시료 상태 고체시료 (분말 또는 필름형태, 비휘발성), 액체 시료

    시료양 및 크기 분말시료 최소 5g, 액체시료 최소 5ml, 필름시료 최소 지름 40mm

  • 원리 및 특징

    시료에 X선을 조사해 2차적으로 발생하는 X선(형광 X선)을 이용하여 F(z=9)에서 U(z=92)까지의 전 원소를 수십 %에서 ppm 정도의 미량성분까지의 넓은 범위에 걸쳐 정성 ·정량 분석

    입사된 X-선이 K Shell의 전자와 충돌하여 그 전자를 궤도에서 밀쳐내게 되면 해당 궤도의 전자는 비어 있게 됨. 비어있는 K Shell로 외각의 전자가 이동하면 K Shell과 외각의 에너지 차이에 해당하는 형광 X-선이 발생

    시료에서 발생한 형광 X-선은 분광결정을 통하여 회절되며, 이는 브래그법칙(nλ = 2dsinθ)을 만족한 것으로 원소 고유의 파장 값을 이용하여 원소 분석에 이용

  • 용도 및 활용분야

    산업용 소재, 금속, 화합물, 복합재료 등의 조성 분석

    제품 공정관리, 소재 개발을 위한 분석 및 평가

    생물학적, 의학적 시료의 분석

    환경 관련 시료 분석

    고고학 및 박물관 자료의 분석

  • 보유장비 및 주요규격

    Model Supermini 200/Rigaku
    X-ray tube Pd target
    X-ray generator 200W, 50 kV-4 mA
    Detector Light elements : F-PC(Flow-Proportional Counter), Heavy elements : SC(Scintillation Counter)
    Crystal LiF 200 (for Ti-U), PET (for Al-Sc), RX25 (for F-Mg)
    Atmosphere Vacuum, He
    Analytical element F (z=9) ~ U (z=92)
    Analytical method Empirical Method (EM), Fundamental Parameter (FP)

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