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보유장비

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Small angle X-ray scattering (SAXS) (소각 X-선 산란)

  • Model XEUSS 3.0 COMPACT
  • 담당자 송동섭 / 042-860-7716
    sds0123@krict.re.kr
  • 기기실 106
  • 시료 정보

    시료 상태고체, 분말, 액체, 박막, 필름

    시료 양 및 크기(Transmission)분말 > 0.1 g, 액체 > 5 mL 이상, 필름 면적 > 3 X 3 cm2,
    (GI-SAXS) 박막 형태 = Si-Wafer 기판 위에 입힌 형태, 박막 면적 > 2 X 3 cm2

  • 원리 및 특징

    X-선을 시료에 조사한 후 산란되는 X-선을 2차원 검출기로 측정하여 나노 구조체(1~300 nm)를 분석하는 기법

    시료-검출기 거리 설정에 따른 X-선 소각/광각 산란(SAXS/WAXS)의 측정 · 분석

    Micro-focused X-선 광원과 2D silicon based pixel array 검출기를 이용한 대면적 · 고 분해능 분석

    투과(Transmission) · 스침각(Grazing incidence; GI) 모드 선택에 따른 다양한 형태의 시료 분석 지원

  • 용도 및 활용분야

    분자 수준부터 수백 나노미터 크기의 시료 내 분자 · 나노 구조체의 구조 분석

    에너지 소재 · 박막 소재 · 고분자 소재 · 촉매 등의 분자의 결정성, 배향, domain 분포, 나노 구조체의 분석 등 구조-물성 간의 상관 관계 규명 분석

    용액 내 단백질, 나노 입자 등의 크기 및 형태 · 구조 분석

    (GI-SAXS) X-선의 입사각 조절을 통한 시료 내부 및 표면 구조 분석

  • 보유장비 및 주요규격

    Model XEUSS 3.0 COMPACT
    Power 50 kV, 0.6 mA
    X-ray source Cu Kα radiation (λ =1.5418 Å)
    q range 0.02 ~ 4.5 Å-1 (SAXS~WAXS)
    Detector Hybrid Photon Counting detectors (HPC), Standard GISAXS module

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