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보유장비

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High Temperature X-ray DiffractometerHT-XRD (고온 X-선 회절분석기)

  • Model Rigaku Ultima IV
  • 담당자 임은수 / 042-860-7715
  • 기기실 102호
  • 시료 정보

    시료 상태분말 시료(녹는점/어는점과 끓는점 고려)

    시료양 및 크기약 1g

  • 원리 및 특징

    물질의 물리적 특성은 원자의 배열 상태와 같은 내부구조의 변화에 따라 다양하게 변하므로 물질의 성질을 이해하기 위해서는 구조적 상전이 현상을 이해하는 것이 중요함

    구조적 상전이(structural phase transition) : 결정 구조의 미소한 변화를 수반하는 상(phase)의 전이로 전이점에서 격자가 불안정하게 되며, 그에 대응하여 결정의 대칭성이 변함

    물질에 열이 가해지면 단위격자 내 원자들의 재배열이 일어나거나 격자구조의 변화를 수반함

    열처리 조건에 따라 내부구조(치환되는 정도, 격자상수 등)가 변화되어 열처리 이전과는 다른 X-선 회절 패턴 형성

    고온 장치를 X-선 회절 분석기에 장착하여 온도 상승에 따른 물질의 구조적 상전이 측정 가능

    In-situ 연구(온도 변화에 다른 구조적 상전이를 실시간으로 확인)

  • 용도 및 활용분야

    각 온도에서 변화된 격자상수를 계산하여 결정의 각 축 방향으로 일어난 열팽창 측정

    가열 상태에서만 존재하는 고온상이나 가역적인 상전이 연구

    금속원소의 탄산염이나 질산염 등의 열분해 반응 연구

    고온에서 발생한 고상반응에 대한 정확한 정보 추적 연구

    진공과 같은 특정 조건하에서의 X-선 회절분석

  • 보유장비 및 주요규격

    Model Rigaku Ultima IV
    Power 40 kV, 40 mA
    X-ray source Cu Kα radiation (λ =1.5418 Å)
    2 theta range 1.5° ~ 160°
    Monochromator Dual position Graphite diffracted beam
    Detector Scintillation counter
    Temperature range RT~1,100℃

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