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보유장비

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      High Resolution X-ray Diffractometer HR-XRD
      (고분해능 X-선 회절분석기)

      • Model Rigaku SmartLab
      • 담당자 임은수 / 042-860-7715 / cordelia@krict.re.kr
      • 기기실 102호

      • 시료 정보

        시료 상태분말

        시료양 및 크기 >500 mg / <지름 20mm

      • 원리 및 특징

        결정체에 조사된 엑스선은 결정 배열의 전자기장에 의해 산란되고, 위상이 일치하는 산란광만이 보강간섭을 일으켜 결정 구조에 따른 고유한 회절 패턴을 형성

        회절패턴은 브래그 법칙(Bragg’s law, nλ=2d sinθ)을 만족할 때 형성

        Johansson mirro를 이용하면 K-alpha-1으로 단색화 된 X-선만 시료에 조사되어 해석에 불필요한 K-beta, K-alpha-2 등이 제이된 회절패턴을 얻을 수 있어 정확한 회절피크 위치를 확인할 수 있음

      • 용도 및 활용분야

        반도체, 전자소재 등의 박막 특성 평가

        • 물질의 결정성 확인
        • 혼합물의 정성 및 정량 분석
        • 격정립(Crystallite) 크기 분석
        • 격자상수(Lattice parameter) 분석
        • 리트벭,(Rietveld) 분석을 통한 결정구조 규명

      • 보유장비 및 주요규격

        Model Rigaku SmartLab
        X-ray generator 9 kW
        X-ray tube Cu
        Optics
        • Symmetric Johansson Ge(111) curved crystal
        • X-ray wavelength : Cu K-alpha-1 (1.5406 Å)
        Goniometer
        • Radius : 300 mm
        • 2theta range : 2° to 158°
        Attachment Auto sample changer, ASC-10
        Detector 1D detector (D/tex Ultra250)

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